電性參數和在線(xiàn)測試
電性參數測試可以節省大量的生產(chǎn)成本：它減少了維修，尤其是在沒(méi)有全面性功能測試的情況下，可鎖定功能測試無(wú)法檢測到的缺陷，使生產(chǎn)技術(shù)人員能夠自主篩選出不良品以保證產(chǎn)品質(zhì)量。Seica 解決方案：Compact Line和Pilot Line.
50微米超小測試點(diǎn)進(jìn)行飛針測試
飛針的特點(diǎn)是靈活。 但常常該解決方案也面臨定制化的要求。 用于芯片測試的 ATE 使用所謂的“晶元接口”（即探針卡）來(lái)接觸晶元在封裝前對芯片進(jìn)行測試。 這些探針卡的測試往往需要需要接觸典型尺寸為 50 微米的測試點(diǎn)。 對這些測試點(diǎn)測試來(lái)保證探針卡正反面的導通連接性。
由于其定位精度和在電路板兩側的并行測試，PILOT V8?NEXT>系列秩序最少定制即可達到最佳解決方案。
實(shí)現
· 通過(guò)將可用的探頭減少到2個(gè)來(lái)定制 Pilot V8 測試系統
· 這2個(gè)測試頭將配置高精度電機和超軟針來(lái)適用于PCB測試
· 安裝高分辨率相機以正確顯示超小測試點(diǎn)
優(yōu)點(diǎn)
·探針卡自動(dòng)化測試
· 安全且可重復的放板方式
· 可對探針卡上的元器件進(jìn)行MDA測試
LED板的ICT和功能測試
近年來(lái)，由于在相關(guān)技術(shù)上的創(chuàng )新，LED 已成為廣泛使用的元件，不僅作為指示燈，也可以用作真正的光源。 電子制造領(lǐng)域持續的進(jìn)行著(zhù)優(yōu)化貼裝和測試的工藝，因為有大量與工藝和測試相關(guān)的相關(guān)問(wèn)題需要解決。 在這方面，在汽車(chē)行業(yè)具有挑戰性的需求驅動(dòng)下，Seica測試設備集成了特殊LED測試傳感器的方案，能夠測試覆蓋各種LED參數，并保證LED按規范運行。
實(shí)現：
· Compact SL測試設備和FEASA LED測試模塊之間的軟件集成
· 安裝具有LED燈板電路測試以及每個(gè) LED 單獨光纖專(zhuān)用夾具
· 測試流程：D.U.T.ICT初步測試，D.U.T. 上電，帶有 LED 上電后的功能測試，通過(guò)傳感器采樣分析LED特性。
優(yōu)點(diǎn):
在復雜參數要求情況下亦能保證客觀(guān)的產(chǎn)品質(zhì)量
·無(wú)需操作員
·不良產(chǎn)品維修時(shí)能快速定位不合格元件
